Практически с момента появления стандарта S.M.A.R.T. II, в большинстве накопителей появилась новая функция - внутренняя диагностика и самоконтроль, для углубленного контроля состояния механики накопителя, поверхности дисков и т.п.
Для запуска этой функции, в набор команд S.M.A.R.T. была введена новая команда - SMART EXECUTE OFF-LINE IMMEDIATE. Результат работы сохраняется либо в специализированных атрибутах, либо отдельным параметром среди других данных в атрибутах. Если накопитель поддерживает журналы S.M.A.R.T., то результат выполнения тестов сохраняется также в журнале Self-test Log.
После выполнения теста, накопитель в обязательном порядке обновляет показания во всех атрибутах и других параметрах.
Если во время выполнения внутреннего теста накопитель получит по интерфейсу новую команду, то выполнение теста прерывается и накопитель приступает к обработке поступившей команды.

1.6.1. Методы тестирования

Существует два способа запуска тестов S.M.A.R.T.: автономный (off-line) или монопольный (captive). Результат теста всегда сохраняется накопителем в данных S.M.A.R.T..
При автономном запуске накопитель сообщает о успешном завершении команды ДО ее ФАКТИЧЕСКОГО исполнения и только после этого выполняет тест. При этом, по интерфейсу флаг ЗАНяТО (BSY) не выставляется и накопитель в любой момент готов приступить к выполнению очередной интерфейсной команды, приостанавливая работу теста. Фактически, тест выполняется в фоновом режиме.
При запуске теста в монопольном режиме, по интерфейсу выставляется флаг ЗАНяТО (BSY) и накопитель начинает непосредственное выполнение теста в режиме реального времени. Любая интерфейсная команда во время выполнения этого теста приведет к его прерыванию и остановке, после чего накопитель приступит к обработке поступившей команды.

1.6.2. Разновидности тестов S.M.A.R.T.

Официально документированы три вида внутренних тестов, однако еще существует набор так называемых "активных" тестов, функциональные особенности которых различны у разных производителей и для широкой публики не документированы.

№	Название теста	off-line	captive
1	Off-line collection	+	-
2	Short Self-test	+	+
3	Extended Self-test	+	+
4	Drive Activity test #1..#4	+	+

Время тестирования может варьироваться от 1 секунды (Quantum) до 54 минут (Fujitsu MPG3409AT).
Поддержка первого теста наиболее вероятна даже в очень старых накопителях 4-5 летней давности.
Второй и третий тесты появились относительно недавно, как дань внедренным сложным технологическим решениям - для полного контроля состояния накопителя пришлось реализовывать более глубокие и точные тесты.
Поддержка 4-х "активных" тестов (см. таблицу, п.4) официально не документированна.
Реальный набор выполняемых тестами функций можно рассмотреть на примере тестов, поддерживаемых жесткими дисками Hitachi:

Функция теста	Short Self test	Extended Self test	Off-line Collection
Raw Read Error Rate Test	YES	YES	YES
Write Test	YES	YES	NO
Servo Test	YES	YES	NO
Partial Read Scanning	YES	NO	NO
Full Read Scanning	NO	YES	YES

Источник: PC JUNGLE SOFTWARE

[ вверх ]

Комментарии

Ваш комментарий к данному материалу будет интересен нам и нашим читателям!

+ Добавить комментарий

Последние статьи: Программирование под ОС / BIOS /

(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 7. Встроенные функции самоконтроля

24-03-2010

Практически с момента появления стандарта S.M.A.R.T. II, в большинстве накопителей появилась новая функция - внутренняя диагностика и самоконтроль, для углубленного контроля состояния механики накопителя, поверхности дисков и т.п... подробнее

Комментарии: 0

Кол. просмотров: общее - 4409 сегодня - 0

S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 6. Журналы ошибок

24-03-2010

В большинстве современных накопителей реализованна функция журналирования появляющихся в течении работы накопителя ошибок или иных событий... подробнее

Комментарии: 0

Кол. просмотров: общее - 4722 сегодня - 0

(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 5. Автономное сканирование поверхности

24-03-2010

Большинство накопителей обеспечивают поддержку автономного сканирования поверхности, которое является одной из функций подпрограммы автономного сбора данных о состоянии накопителя (off-line data collection)... подробнее

Комментарии: 0

Кол. просмотров: общее - 4067 сегодня - 0

S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 4. Типы атрибутов

24-03-2010

Каждый атрибут может иметь некоторый набор флагов, определяющих его функциональные особенности. Ниже приводятся все шесть основных типов и их краткие описания... подробнее

Комментарии: 0

Кол. просмотров: общее - 4710 сегодня - 1

(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 3. Описание известных атрибутов

24-03-2010

Данный указатель показывает, что соответствующий атрибут S.M.A.R.T. является критическим для нормального функционирования накопителя. Ухудшение значений таких атрибутов с наибольшей вероятностью приводит к выходу накопителя из строя... подробнее

Комментарии: 0

Кол. просмотров: общее - 4582 сегодня - 0