|
| |
|
|
Ответов: 0
|
25-02-12 07:01
|
|
|
| |
|
|
Ответов: 0
|
16-01-12 20:13
|
|
|
| |
|
|
Ответов: 1
|
09-01-12 11:23
|
|
|
|
Программирование под ОС / BIOS /
| |
| | |
Возможно вас заинтересует
|
|
S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 4. Типы атрибутов
1.3.4. Типы атрибутов.
Каждый атрибут может иметь некоторый набор флагов, определяющих его функциональные особенности. Ниже приводятся все шесть основных типов и их краткие описания. Pre-failure (PF). Если атрибут имеет этот тип, то поле threshold атрибута содержит минимально допустимое значение атрибута, ниже которого не гарантируется работоспособность накопителя и резко увеличивается вероятность его выхода из строя. On-line collection (OC). Указывает, что значение данного атрибута обновляется (вычисляется) во время выполнения on-line тестов S.M.A.R.T. или же во время обоих видов тестов (on-line/off-line). В противном случае, значение атрибута обновляется только при выполнении off-line тестов. Performance related (PR). Указывает на то, что значение этого атрибута напрямую зависит от производительности накопителя по отдельным показателям (seek/throughput/etc. performance). Обычно обновляется после выполнения self-test`ов SMART. Error rate (ER). Указывает на то, что значение атрибута отражает относительную частоту ошибок по данному параметру (raw read/write, seek, etc.). Events count (EC). Указывает на то, что атрибут является счетчиком событий. Self-preserve (SP). Указывает на то, что значение атрибута обновляется и сохраняется автоматически (обычно при каждом старте накопителя и при выполнении тестов SMART).
|
Последние статьи: Программирование под ОС / BIOS /
| |
| | |
|
Практически с момента появления стандарта S.M.A.R.T. II, в большинстве накопителей появилась новая функция - внутренняя диагностика и самоконтроль, для углубленного контроля состояния механики накопителя, поверхности дисков и т.п... подробнее
|
|
Кол. просмотров: общее - 4409 сегодня - 0
|
|
|
В большинстве современных накопителей реализованна функция журналирования появляющихся в течении работы накопителя ошибок или иных событий... подробнее
|
|
Кол. просмотров: общее - 4722 сегодня - 0
|
|
|
Большинство накопителей обеспечивают поддержку автономного сканирования поверхности, которое является одной из функций подпрограммы автономного сбора данных о состоянии накопителя (off-line data collection)... подробнее
|
|
Кол. просмотров: общее - 4067 сегодня - 0
|
|
|
Каждый атрибут может иметь некоторый набор флагов, определяющих его функциональные особенности. Ниже приводятся все шесть основных типов и их краткие описания... подробнее
|
|
Кол. просмотров: общее - 4709 сегодня - 0
|
|
|
Данный указатель показывает, что соответствующий атрибут S.M.A.R.T. является критическим для нормального функционирования накопителя. Ухудшение значений таких атрибутов с наибольшей вероятностью приводит к выходу накопителя из строя... подробнее
|
|
Кол. просмотров: общее - 4582 сегодня - 0
|
|
|
|
