[ главная ]   [ рейтинг статей ]   [ справочник радиолюбителя ]   [ новости мира ИТ ]



Ответов: 0
25-02-12 07:01







   Web - программирование
PHP


ASP






XML



CSS

SSI





   Программирование под ОС











   Web - технологии








   Базы Данных









   Графика






Данные




Программирование под ОС / BIOS /

S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology)

Технология S.M.A.R.T. - Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology (от англ. "Технология Самодиагностики, Анализа и Отчета") - была разработана для повышения надежности и сохранности данных на жестких дисках. В большинстве случаев, SMART-совместимые устройства позволяют предсказать появление наиболее вероятных ошибок и, тем самым, дают пользователю возможность своевременно сделать резервную копию данных и/или полностью заменить накопитель до выхода его из строя.

 

1.1. S.M.A.R.T.


Представляет собой набор мини-подпрограмм, которые являются частью микрокода накопителя и определяют поддерживаемые диагностические функции. Наиболее распространенные среди них:
набор атрибутов, отражающих состояние отдельных параметров накопителя (до 30) внутренние тесты накопителя (self-test) журналы S.M.A.R.T. (ошибок, общего состояния, дефектных секторов и т.п.)
В настоящий момент не существует официальной документации или стандарта на технологию S.M.A.R.T.S.M.A.R.T. в своих накопителях. Обязательный минимум описан в последнем стандарте ATA/ATAPI-6.
В связи с этим, производители не публикуют полные характеристики и поддерживаемые функции

1.2. Развитие технологии S.M.A.R.T.

История технологии S.M.A.R.T. не так уж и богата подробностями:
SMART I предусматривал мониторинг основных жизненно важных параметров и запускался только после команды по интерфейсу в SMART II появилась возможность фоновой проверки поверхности, которая выполнялась накопителем автоматически во время "холостого хода"; появилась функция журналирования ошибок в SMART III впервые появилась не только функция обнаружения дефектов поверхности, но и возможность их восстановления "прозрачно" для пользователя и многие другие новшества
    Известно, что первыми разработали основы и предложили эту технологию совместно Western Digital, Seagate и Quantum. После этого их уже поддержали такие компании как IBM, Maxtor и Samsung. HitachiS.M.A.R.T. уже на стадии разработки SMART II, первыми предложив методику полной самодиагностики накопителя (extended self-test).
В настоящее время производители жестких дисков готовятся принять к использованию новый вариант технологии S.M.A.R.T. - "1024 S.M.A.R.T.", характерной особенностью которого будет заметно бОльший размер журналов, повсеместное использование мультисекторных журналов, более точные алгоритмы анализа показаний встроенных в накопитель сенсоров (термодатчики, сенсоры ударов, и т.п.) и многое другое.
Вот несколько новых функций: приняла участие в развитии технологии
введение алгоритма анализа температурного режима накопителя введение ограничения по минимальной и максимальной температуре в рабочем состоянии введение счетчика общего количества записанных секторов на протяжении жизненного цикла накопителя введение счетчика запусков внутренних алгоритмов восстановления (recovery counters)
    Главным же плюсом можно считать введение новых атрибутов, которые позволят контролировать состояние и рабочие характеристики по каждой из головок чтения/записи:
относительная устойчивость (стабильность "полета") головки исправление ошибок чтения (со "скрытыми" повторными попытками) автоматическое перераспределение дефектных участков поверхности при операциях записи счетчик-накопитель G-List для учета количества принятых ударных нагрузок счетчик-накопитель S-List для учета общего количества "программных" ошибок



Комментарии

 Ваш комментарий к данному материалу будет интересен нам и нашим читателям!



Последние статьи: Программирование под ОС / BIOS /

(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 7. Встроенные функции самоконтроля
24-03-2010   

Практически с момента появления стандарта S.M.A.R.T. II, в большинстве накопителей появилась новая функция - внутренняя диагностика и самоконтроль, для углубленного контроля состояния механики накопителя, поверхности дисков и т.п... подробнее

Кол. просмотров: общее - 3018 сегодня - 2

S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 6. Журналы ошибок
24-03-2010   

В большинстве современных накопителей реализованна функция журналирования появляющихся в течении работы накопителя ошибок или иных событий... подробнее

Кол. просмотров: общее - 3362 сегодня - 3

(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 5. Автономное сканирование поверхности
24-03-2010   

Большинство накопителей обеспечивают поддержку автономного сканирования поверхности, которое является одной из функций подпрограммы автономного сбора данных о состоянии накопителя (off-line data collection)... подробнее

Кол. просмотров: общее - 2817 сегодня - 1

S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 4. Типы атрибутов
24-03-2010   

Каждый атрибут может иметь некоторый набор флагов, определяющих его функциональные особенности. Ниже приводятся все шесть основных типов и их краткие описания... подробнее

Кол. просмотров: общее - 2950 сегодня - 4

(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) Страница 3. Описание известных атрибутов
24-03-2010   

Данный указатель показывает, что соответствующий атрибут S.M.A.R.T. является критическим для нормального функционирования накопителя. Ухудшение значений таких атрибутов с наибольшей вероятностью приводит к выходу накопителя из строя... подробнее

Кол. просмотров: общее - 3168 сегодня - 2



  WWW.COMPROG.RU - 2009-2012 | Designed and Powered by Zaipov Renat | Projects